*振動控制/精密定位/量測系統*

1.Piezomechanik / 壓電致動元件：
高電壓 (-30~150V, -100~500V, -200 ~ 1000V) 壓電功率放大器 (open/closed loop ); 積層型壓電致動器/ 壓電材料 - 圓型、方型、.環狀和光學用之壓電晶體及電縮致動器(Electrostrictive Actuator)。PosiCon.an System / FeedBack Controller for X-Y-Z translation stages with strain gage for position detection.。

2.Cedrat / 閉回路奈米定位控制裝置：
直接壓電 (Direct Piezo-)，平行預應力 (Parallel  Pre-stressed-)，放大壓電 (Amplified Piezo) 和超音波壓電 (Ultrasonic Piezo) 等致動器 (actuators)；超音波壓電驅動器 (Ultrasonic Piezo Drives)；線性超音波壓電馬達(LPM)；旋轉超音波壓電馬達(RPM)；電壓致動器驅動電氣裝置:線性放大器；Switching Power / Amplifier；AD/DC和DC/DC轉換器；超音波轉換器；應變規處理器；伺服及微動控制器；奈米位移平台及傾斜移動平台回饋控制系統。

3.A.A. Lab Systems：
高頻調變壓電功率放大器: A-301/A-301HS(±60mA/±100mA/160V/200KHz); A-304 (±400V/100mA/280KHz); A-303 (DC~450KHz or 1.2MHz/ ±200V/±200mA); 若二台串聯或並聯擴大輸出至400V或800V；應用於驅動單層、多層/積層型及Bimorph 壓電陶瓷，神經學/電極驅動器、血漿致動器、振動控制、結構阻尼分析及光電應用。
G3000series/訊號擷取放大系統- 應變、壓力、熱電偶、加速度、光二極體及壓電等。LVDT訊號處理卡。

4.Mechonics / 微小壓電惰性馬達定位平台：
尺寸像骰子一般大小（30mm-L x 25mm-W x 18mm-T），但行程最大可至30mm，經由USB界面控制；低遲滯、解析最高可達50nm；可應用於光纖定位，生醫科技顯微視覺檢測等用途。

5.Standa：
精密防震桌，氣壓型防震平台系統；線性/旋轉定位平台(手動及馬達驅動) ;多軸/DC步進馬達控制器(PCI及USB介面)及手動控制卡；光學/支撐架及導桿；雷射二極體驅動器。

6.Shinsei：
超音波壓電馬達(with Encoder & Driver)--低轉速、高扭力、不受磁場影響。

7.Kaman：
非接觸渦電流精密位移量測系統 – KD2300，KD2440，KDM8000，KμDA，KD5100，DIT5200，SMU9000和SMU9200 (resolution to 1 nm even 1 Å)。非接觸內外螺紋感應量測裝置。

8.APC / MSI / Piezoceram / Piezotech：
壓電陶瓷材料/PZT Ceramics (Bimorph & Unimorph)微波(Microwave)陶瓷，陶瓷粉末 ; QUARTZ晶體 ; PIEZO PVDF Films (Mono- or Bi-Orientation) - 9 µm ~ 100 μm 鍍金、白金、銀或鉻/鋁層等。

9.Etrema / Terfenol-D：
Magnetostrictive Actuator (磁縮或磁歪致動器)位移驅動控制系統較小磁滯 / Hysteresis, 潛變/Creep；應變、輸出力及響應速度均高於壓電致動器。

10.Acuity (最高解析至2μm) / DSE ( up tp 0.8μm)：
非接觸雷射/光電位移量測儀-利用光學三角原理檢知被測物之厚度、距離、張力、液位、振動及瑕疵等測試系統。

11.Capacitec：
電容感應位移量測模組暨系統—電訊放大器及探頭，最小探頭外徑1 mm　(Sensor OD / 1mm )最高線性度 / ±0.2%及再現性/ 0.01%，解析可達2.5 nm。

12.D*ASS / Trek :
   高電壓( 0-6K~12KV )電源供應器用於驅動ERF (Electro-Rheological Fluid / Shear-Flow-Squeeze
      Mode) 矽流液之應用；如振動吸收、油壓、振動制動及離合器控制；功率放大器供驅動壓
   電/電縮致動器等。

13.Motion Link :
微步進 /伺服馬達驅動-線性 / 旋轉位移平台( X, Y, Z,θ ))整合運動控制卡，組成模組化無反作用力微定位回饋控制系統，最大解析達0.1 mμ。

14.MicroE / 雷射定位檢知器 :
      微小雷射讀取頭,可程式/類比/數位輸出及真空型雷射編碼器 (Laser Encoder)   
      搭配運動控制卡可於精密平台位移量測,解析範圍from 5μm to 5 nm。

*影像擷取系統及非破壞檢測應用之電腦介面卡*

15.Euresys (eVision) / Matrox (Inspector)：
數位化影像訊號/擷取/量測/分析軟體及介面卡。

16.AlazarTech / Gage / Sofratest :
   快速高頻A/D, D/A介面卡(ISA and PCI Bus)，數據擷取最高速度1GS/s，供
   振動分析、硬碟驅動測試及醫學工程/超音波試驗/影像處理等應用。

17.NDT Systems / Ultran：
數位化探傷儀；超音波測厚儀；膜厚(coating /plating)測厚儀器；複合材料用之Bonding Tester;及超音波探頭等。

18.Walker LDJ:
磁場量測儀/高斯計(Gaussmeter / Hall Effect) / 磁化產生器及電磁系統。

19.LORD / MRF (Magneto-Rheological Fluid / Damper)：
磁流變液與阻尼器等產品。

20.Schmitt Industries, Inc./動平衡控制振動位移量可達0.1μm:
A. 手動及線上磨床( 平面、圓筒及無心)全自動振動平衡控制系統，含頻譜分析儀可偵測機台20個點的振動及轉速值，控制砂輪直徑從5"─48"。
B. 超聲波進刀防撞控制系統：自學感應8個濾波頻段並自動擷取最強最適宜的信號，快速進給，緩速接觸研磨，與CNC 同步作工件研磨及砂輪
修整，可存取16組研磨/修整記憶功能。